 |  |
Auteur(s) : Rochex Jean-Yves(Dir.), Tiberghien Andrée(Collab.)
Titre : REVUE FRANÇAISE DE PÉDAGOGIE
Sous-titre : N° 157 - PISA : analyses secondaires, questions et débats théoriques et méthodologiques
Année : 2007
Editeur(s) : INRP
Sommaire
Article
- ROCHEX Jean-Yves, TIBERGHIEN Andrée : Introduction
- V. OLSEN Rolf , LIE Svein : Les évaluations internationales et la recherche en éducation : principaux objectifs et perspectives
- VRIGNAUD Pierre : La mesure de la littéracie dans PISA : la méthodologie est la réponse, mais quelle était la question ?
- MOREAU Jean, NIDEGGER Christian, SOUSSI Anne : Définition des compétences, choix méthodologiques et retombées sur la politique scolaire en Suisse
- PRENZEL Manfred, ZIMMER Karin : Études complémentaires de PISA 2003 en Allemagne : principaux résultats et enseignements
- RÉMOND Martine : Éclairage des évolutions internationales PIRLS et PISA sur les élèves français
- BAUTIER Élisabeth , CRINON Jacques, RAYOU Patrick, ROCHEX Jean-Yves : Performances en littéracie, mode de faire et univers mobilisés par les élèves ; analyses secondaires de l'enquête PISA 2000
Varia
- ALBE Virginie : Procédés discursifs et rôles sociaux d'élèves en groupes de discussion sur une controverse socio-scientifique
- LOQUET Monique : Analyse des gestes professionnels : illustration de " l'oeil du maquignon " chez une formatrice en expression corporelle
- POGGI Marie-Paule , WALLIAN Nathalie , MUSARD Mathilde : La construction sociale du jugement inspectoral : la définition du métier d'enseignant vue à travers une analyse de rapports d'inspection en EPS
Note de synthèse
- SARRAZIN Philippe , TESSIER Damien , TROUILLOUD David : Climat motivationnel instauré par l'enseignant et implication des élèves en classe: l'état des recherches
Note critique
Littérature professionnelle
Mots clés : Évaluation ; Politique de l'éducation ; Motivation ; Conduite de la classe ; Mesure
Rubrique : Éducation, Politiques, Sociétés
Type : Revue Ref. : RF 157 Sodis : Néant Isbn : 978-2-7342-1075-7 Issn : 0556-7807 Vous abonner
